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ISTFA 2017: 43国际研讨会的程序测试和故障分析

平装|产品代码:02219 g ISBN: 9781627081504

分类为:微电子失效分析

价格:美元167.00会员价格:美元125.00

描述

2017年11月会议的主题是追求100%的成功率。论文关注所需的工具和技术的成功率最大化电子设备失效分析过程的方方面面。

  • 出版者:ASM国际beplay体育官网地址
  • 发表:2017
  • 页:660
  • ISBN: 9781627081504

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