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ISTFA 2018:从第44届国际研讨会程序测试和故障分析

平装|产品代码:02220 g ISBN: 9781627080996

分类为:微电子失效分析

价格:美元167.00会员价格:美元125.00

描述

测试和失效分析国际研讨会(ISTFA) 2018年共存与国际测试(ITC)会议,于2018年10月28日至11月1日在凤凰城,亚利桑那州,美国在凤凰城会议中心。

2018年11月会议的主题是“失败的价值分析。“虽然技术进步快,市场需求最新和最伟大的,成功的公司努力保持竞争力和保持盈利。

  • 出版者:ASM国际beplay体育官网地址
  • 发表:2018
  • 页:573
  • ISBN: 9781627080996

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