第三扩展欧洲失效分析网络(EUFANET)车间、“智能FA在电子设备新材料”在德累斯顿举行,德国,台北,2012年9月。本文总结了事件的亮点展示灵活的有机电子,在碳化硅晶体缺陷,nanoprobing,纳米x射线断层扫描的能力。

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2013年
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半导体晶圆
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