本文提出了一个案例研究的集成电路故障发生在一个井下钻井环境。它描述了测试和考试,并解释如何执行调查人员确定,柯肯特尔效应导致了失败。

声成像,分层,芯片安装失败,柯肯特尔效应
这些内容只是作为一个PDF。
版权©ASM国际®201beplay体育官网地址5
2015年
beplay体育官网地址
主题
电子封装 声学显微镜 半导体晶圆 温度
您目前没有访问这些内容。