第44届国际研讨会进行测试和失效分析(ISTFA 2018)在凤凰城,亚利桑那州。,2018年10月28日- 11月1日。本文总结了高光和标识事件的元凶之一。它还包括一个总结小组讨论的主题“失败值得分析。“这结尾讨论了聚焦离子束,样品制备,和非接触式故障隔离/ Nanoprobing用户组会议举行的会议。

ISTFA
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2019年
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半导体晶圆
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