本文讨论了建筑分析的概念,意图和它所提供的价值的集成电路制造商和用户。它描述了半导体器件的一个建筑分析的基本步骤并提出和解释获得的测量和观察分析的几个ICs。

建设分析,测试方法评估
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2001年
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主题
半导体晶圆 测试方法评估
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