利用非稳态泄漏电流光发射(LEOSLC)进行CMOS IC诊断

当前集成电路的失态泄漏电流约占总电流的一半，随着每一代新技术的发展，这个问题变得越来越严重。然而，失败分析师却有不同的看法。与漏电流相关的光发射是集成电路工作的丰富信息来源。在本文中，作者解释了他们如何使用这种光来监测逻辑状态，测量温度，分析串扰和配电噪声，并诊断损坏的扫描链。失态泄漏电流的光发射(LEOSLC)被证明对于诊断位于扫描时钟树中的故障特别有用，否则这些故障很难检测到。