这篇文章提出了一个案例研究涉及闪存位故障的特点是阈值电压变化，由于正门干扰应力。研究人员发现，钻头失效行为的不一致性取决于测试模式，为失效提供了电学解释。潜在的缺陷被分离出来，随后通过物理分析确定。

有些失败，故障隔离，闪存，正闸门扰动应力，电阻连接
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半导体晶圆制造 根本原因分析
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