测试和故障分析的第36届国际研讨会(2010年ISTFA)在达拉斯,得克萨斯州,2010年11月14 - 18。本文简要总结的主题演讲中,技术项目、小组讨论、教程、和用户组会议。

ISTFA
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2011年
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半导体晶圆
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