第37届国际研讨会进行测试和失效分析(ISTFA 2011)是在圣何塞举行,2011年11月,北京。本文总结了主题演讲中,技术项目、座谈会、教程、用户组会议,和设备博览会。

ISTFA
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2012年
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半导体晶圆
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