2012年9月17日至18日，第三届欧洲失效分析网络(EUFANET)扩展研讨会“电子设备新材料的智能FA”在德国德累斯顿举行。这篇文章从柔性有机电子、SiC晶体缺陷、纳米探测和纳米x射线断层扫描能力的演讲中总结了此次活动的重点。

EUFANET
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半导体晶圆制造
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