电迁移是一种损耗机制，是导致集成电路失效的重要原因。本文讨论了这种经常被忽视的故障模式的原因和影响，并提出了实用的指导方针，以帮助分析人员确定电迁移是否是特定故障的原因。讨论了铝和铜电迁移的区别。

铝电迁移，铜电迁移，电迁移，金属过渡
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半导体晶圆制造 电化学金属迁移
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