ISTFA 2014年总结

40国际研讨会进行测试和失效分析(ISTFA 2014) 11月8日至14日举行,2014年在乔治·r·布朗会议中心在休斯顿,德克萨斯州。“探索故障分析的许多方面,”2014年ISTFA的主题,强调了不同性质的半导体失效分析在21世纪。技术会议、主题演讲和教程ISTFA 2014涉及广泛的话题从故障隔离和样品准备到极端环境失败和数字信号处理器的诞生。