Anirban Roy, Jay Anderson;用共振增强纳米红外光谱(AFM-IR)表征半导体中有机纳米污染。EDFA技术文章2017年5月1日;19(2): 31-34。doi:https://doi.org/10.31399/asm.edfa.2017-2.p031
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本文讨论了共振增强AFM-IR光谱的发展,并证明了其在含有纳米尺度皮肤颗粒和聚酯污染物的硅测试片上的有效性。
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