跳过导航目的地
技术文章
|
2017年8月01
检查Edge-Termination性能和故障在垂直GaN和沃甘功率二极管使用扫描电子束技术
摘要技术文章(2017)19 (3):12-20。
引用
R.J. Kaplar,f·伦纳德,kc柯林斯,点阿姆斯特朗,jr迪克森,议员王,嗜Allerman,M.H.克劳福德,嗜多花的;检查Edge-Termination性能和故障在垂直GaN和沃甘功率二极管使用扫描电子束技术。摘要技术文章1 2017年8月;(3):19日12-20。doi:https://doi.org/10.31399/asm.edfa.2017 - 3. p012
下载引用文件: