快速失效分析先进微处理器通过单元级别的可追溯性

单位级可追溯性(过错)是一个强大的工具,它允许完成死历史访问过程中测试和分析。是特别有用的识别可能导致微处理器的情况下失败和故障分析的资源是有限的。在这篇文章中,作者解释了他是如何使用相应的调查0.25 -µm CMOS处理器。使用相应的死,他发现了一个失败签名基于模位置在晶片上。一个失败的根源追溯到跨域变化在光刻过程中由于边际集中控制。另一个失败,观察老化后,被追踪到的存在残余钛金属腐蚀后离开。