激光探测电压(LVP),一个想法技术,促进在矽信号波形采集和高频率定时测量从活跃的pn结CMOS集成电路。ICs可以在倒装芯片以及丝焊包背后访问IC。这篇文章解释说,LVP显著提高硅调试和故障分析吞吐量时间相比,电子束探测,因为它不需要背后挖沟和探测孔生成操作。

背后的分析,CMOS集成电路,激光探测电压,硅调试,时间分辨电压测量
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电子封装 半导体晶圆
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