一个新的产品,如测试芯片卡内基梅隆大学开发的工程师克服当前限制在传统测试芯片设计。本文讨论新芯片的优点,称为CM-LCV,并给出实验结果显示它如何实现故障保险相当于或优于基准测试的设计。

故障覆盖率,测试芯片,可测试性,产生学习
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2019年
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半导体晶圆
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