本文描述了如何使用故障分析工具对不同类型的非易失性存储器(NVM)单元发起物理攻击。它解释了存储在这些设备中的位信息如何容易受到读出和故障注入攻击的影响，并定义了漏洞参数，以帮助量化与不同攻击方式相关的风险。它还对新兴的NVM技术进行了深入的安全分析，并讨论了潜在的对策。

对策，成像模式，非易失性存储单元，物理攻击，探测模式，读出，脆弱性分析
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半导体晶圆制造 质量保证和测试
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