大卫•道格拉斯凯尔Godin;整个芯片失效分析和质量保证机构扁平化。摘要技术文章2023年5月1日;25 (2):4 - 8。doi:https://doi.org/10.31399/asm.edfa.2023 - 2. p004
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广泛的离子束机构扁平化是一个多才多艺的整个芯片失效分析技术。均匀的大面积加上能够精确地停在感兴趣的层促进可重复的、快速的缺陷检测芯片上的任何地方。
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