迈克尔Strizich;塑料封装微电路(PEMs)失效分析EDFA技术条款二零零五年二月一日;7(1): 10-14。doi:https://doi.org/10.31399/asm.edfa.2005-1.p010
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虽然塑料封装的封装主导了IC行业的大部分,但退化和可靠性测试仍然是一个问题,特别是在从密封陶瓷封装转向密封陶瓷封装的行业中。本文讨论了在军事和航空航天电子工业中,由于使用塑料包装,设计师和故障分析人员面临的挑战。它提供了遇到的故障类型的示例,并描述了用于检测和识别故障的过程。
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