CMOS集成电路诊断使用光发射从断开的泄漏电流(LEOSLC)

断开的泄漏电流占大约一半的总电流今天的ICs,和每一个新一代的技术,问题变得更糟。然而,失败分析师对此有不同的看法。光发射与泄漏电流富含ICs的操作信息。在这篇文章中,作者解释他们如何使用这个光监控逻辑状态,测量温度,分析相声和配电噪音,和诊断破碎的扫描链。光发射从断开的泄漏电流(LEOSLC)被证明是特别有用的诊断故障,驻留在扫描时钟树,否则很难探测到。