Scan-logic诊断是用于工业的三个主要目的:根源分析,改善生产流程,提高设计。本文综述scan-logic诊断的原则及其应用的三个方面。它还讨论了持续的挑战和新兴方法。

根源分析,scan-logic诊断,产量提高
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2007年
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半导体晶圆 根本原因分析
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