在电子工业中，造假仍然是一个令人担忧的问题，尤其是微处理器、存储芯片和高温范围的集成电路。本文介绍了该问题的严重程度，识别了经常被复制的部件，并提出了帮助遏制造假者的措施。

这篇文章解释了一个高压电容器的故障如何导致一个不寻常的缺陷的发现。测试表明，电容器因银迁移而短路，调查人员认为，这是由介电中从制造时就存在的空隙促成的。由于时间、电势、困湿和操作温度升高的综合作用，平板材料迁移到空隙中，形成了一条导致故障的短路径。利用声学图像作为指导，故障电容器被横切，使研究人员能够更仔细地检查空隙，从而证实他们的理论。

本文解决了电容器故障的问题，解释了它们如何以及为什么发生，以及如何确定原因。它描述了陶瓷、铝箔和电解电容器常见但常被忽视的可靠性失效机制。

本文解释了法国民用航空安全调查和分析局(BEA)的安全调查人员如何使用芯片级恢复程序来检索记录的飞行数据，这些数据帮助他们拼凑出了导致最近在法属圭亚那发生的直升机事故的事件。恢复的数据、目击者的描述以及一系列测试的结果表明，发动机燃油自动调节系统内的一个电容过滤电流发电机的输出出现故障，迫使飞行员手动控制燃油调节。尽管还有其他因素，但正如文章所解释的那样，电容器故障在坠机中起了主要作用。

本文综述了表面贴装钽电容器的基本失效模式和确定原因的方法。讨论了导致漏电、短路、断开和高串联电阻的因素，每种失效模式的特点，以及失效分析的最佳方法。

干式钽电解电容器因其在有效工作电压下电容大、有效串联电阻低、寿命相对较长、占地面积小等优点，在电子设备中得到广泛应用。钽电容器也有一些局限性，如果在电路设计时不加以考虑，可能会产生灾难性的故障。在这个详细且说明充分的案例研究中，强调了这种限制的影响。

充液金属聚合物薄膜电容器具有独特的失效机制，其中许多与液位不足、安装几何形状不当或两者兼有有关。虽然可以使用x射线测试设备来分析这种故障，但这通常是不切实际的或成本高昂的。本文描述了在充液电容器中观察到的一些失效模式，并解释了如何轻松而廉价地分析它们。

本文介绍了分析印刷电路板组装故障的最佳实践和程序。它讨论了静电放电和电气超应力的作用，球栅阵列和埋通孔的日益复杂，与无铅焊接工艺相关的挑战，以及流入我们的供应线的假冒组件引起的问题。它还包括故障分析人员可用的工具的摘要，以及如何最好地使用它们

曲线示踪器是一种多功能的实验室仪器，可以为各种分析提供电气特性数据。曲线示踪器有助于分析陶瓷电容器，识别漏电部位、加速因素、辐射敏感性和失效机制。