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期刊文章

改变一个行业:一个发明家FIB原位提升式的故事

谢丽尔Hartfield
摘要技术文章25 (2023)(1):20-27。
DOI: https://doi.org/10.31399/asm.edfa.2023 - 1. p020
发表:2023年2月01
…谢丽尔Hartfield这的故事是主流Omniprobe提升式解决方案(FIB发明并交付给市场。版权©ASM国际®202beplay体育官网地址3 2023 ASM国际这的故事是主流Omniprobe提升式解决方案(FIB发明并发表…
文摘
这是故事的主流Omniprobe提升式解决方案(FIB发明并交付给市场。
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期刊文章

变化提升式为(FIB原位透射电镜样品制备

谢丽尔Hartfield,马特锤,冈萨洛Amador,汤姆•摩尔
摘要技术文章(2011)13 (3):18-26。
DOI: https://doi.org/10.31399/asm.edfa.2011 - 3. p018
发表:2011年8月01
…样品httpsdoi.org/10.31399/asm.edfa.2011 - 3. - p018 EDFAAO(2011) 3:18-26提升式样品准备1537 - 0755 / 19.00美元(©ASM国际®变化提升式对TEM样beplay体育官网地址品制备(FIB原位谢丽尔Hartfield,马特锤,冈萨洛Amador,和汤姆·摩尔Omniprobe公司hartfield@omniprobe.com……
文摘
本文讨论FIB-based原位提升式的实践,一个样品制备方法,已被证明对失效分析特别有用。它解释了样品正在为范围广泛的TEM技术,包括全息术、断层、倾角环形暗场扫描、和电子能量损失谱。在大多数情况下,实现最优质量需要使用备用FIB磨角,在建立过程中,侧面,背面铣,所有的讨论。
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期刊文章

使用低温FIB-SEM电子材料的失效分析

尼古拉斯·安东尼奥由于
摘要技术文章(2013)15 (3):19。
DOI: https://doi.org/10.31399/asm.edfa.2013 - 3. p012
发表:2013年8月01
…由尼古拉斯•安东尼奥由于低温FIB-SEM亚当·格雷厄姆(CNS-Harvard大学),谢丽尔Hartfield,冈萨洛Amador(这两个Omniprobe牛津仪器公司),这是第38届国际研讨会进行测试和失效分析(ISTFA), 2012年11月15日(凤凰城,AZ)。12…
文摘
FIB铣是困难的,如果不是不可能与III-V化合物半导体和某些互连金属因为材料不反应与镓在大多数FIB系统使用。本文讨论了问题的性质和解释了低温FIB-SEM技术提供一个解决方案。它描述了FIB-SEM系统的基本设置,并提供其使用的例子在客栈纳米晶体,氮化镓薄膜和铜的多层光伏材料。
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期刊文章

ISTFA 2010: ISTFA 2010结尾的

威廉Vanderlinde
摘要技术文章(2011)13 (1):36 - 37。
DOI: https://doi.org/10.31399/asm.edfa.2011 - 1. p036
发表:2011年2月01
…导演今年年代设备博览会是由Efrat拉兹Omniprobe。世博会空间完全被卖完了94个展位,其中许多出席首次ISTFA。最好的纸从国际米兰——由于埃德·凯斯,全国研讨会上用户组会议物理和失败…
文摘
测试和故障分析的第36届国际研讨会(2010年ISTFA)在达拉斯,得克萨斯州,2010年11月14 - 18。本文简要总结的主题演讲中,技术项目、小组讨论、教程、和用户组会议。
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期刊文章

ISTFA 2009用户的小组讨论总结

摘要技术文章(2010)12(2):精神分裂症一般。
DOI: https://doi.org/10.31399/asm.edfa.2010 - 2. p020
发表:2010年5月01
…和一个探测器由哈佛大学的尼古拉斯·安东尼奥由于Nanoworld。尼古拉斯共享一些新颖的应用案例研究,FIB /扫描电子显微镜(SEM) (NVision 40横梁,卡尔蔡司SMT和他们纳米技术有限公司)是用于配合nanoprobe (Omniprobe300年……
文摘
本文总结了从四个用户组会议主要讨论点ISTFA 2009举行的会议。解决的主题是“光学技术:增长和限制,”“解决Nanoprobing 45 nm和超越:新的挑战,”“撒小谎,”和“快速ASIC故障隔离:效率和准确的解决软件故障隔离。”
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期刊文章

失效分析技巧和治疗

杰森·希金斯,Re-Long赵,丽莎·丹尼尔斯,洁西卡莱特,彼得森迦勒
摘要技术文章(2011)13(3):进一步。
DOI: https://doi.org/10.31399/asm.edfa.2011 - 3. p028
发表:2011年8月01
…背后的目标,随着最后一个样本裂解清洁机,见图5。这种技术也可以让你更容易提取的样本。许多实验室有一个Omniprobe提取系统,允许轻松地删除样本无伤大雅的谎言;否则,一个便宜的…
文摘
快捷键失效分析中有时为了节省时间或金钱或因为专业设备或不可用。本文提出了简单而有效的解决方案在四个领域,包括deprocessing、FIB铣、microcleaving, TEM样品制备,可以帮助分析师完成或在这种情况下。
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期刊文章

裂开的突破:删除旧的新方法的局限性

Efrat穆瓦亚尔这样,Ekkehart Brandstadt
摘要技术文章(2014)16 (3):26-31。
DOI: https://doi.org/10.31399/asm.edfa.2014 - 3. p026
发表:2014年8月01
…,and upper management at startups such as Sela, Sagitta, andOmniprobe以及建立企业如Gatan和30电子设备失效分析牛津仪器。导演最近,Efrat与人共同创立了一个新的创业公司致力于创新和高度准确的裂开一套广泛的解决方案……
文摘
scribe-and-cleave方法是一种广泛使用的样品制备技术,尽管许多挑战并不理想。本文描述一个新的indent-and-cleave方法提供改进的结果,即使在以前被认为是uncleavable样品。提出了几个案例研究演示新技术的能力。
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期刊文章

第六FIB-SEM车间

尼古拉斯·安东尼奥由于
摘要技术文章(2014)16 (1):18 - 23。
DOI: https://doi.org/10.31399/asm.edfa.2014 - 1. p018
发表:2014年2月01
…和透射电镜成像设备和分析。少量修改AutoProbe提示(Omniprobe牛津仪器公司),一个用于低温现成的低温阶段和准备设备被用来准备样品在技术程序打开向奥利弗·威尔斯Lynne Gignac…
文摘
第六FIB-SEM车间3月1日举行,2013年,在马萨诸塞州剑桥市。本文提供了一个事件的总结以及强调从18纸演示。
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