本文描述了物理攻击可以推出不同类型的非易失存储器(NVM)细胞使用失效分析工具。它解释了一些信息存储在这些设备容易读出和故障注入攻击和定义参数来量化风险的脆弱性与不同形式的攻击。它还提供了一个深入的安全分析的新兴NVM技术和讨论潜在的对策。

本文描述了扫描的基本物理测量氮空位(NV)显微镜和各种方式可以用于半导体器件失效分析。扫描NV显微镜可以测量地形以及磁场,局部电流密度、交流噪声,和当地的温度变化。

提高x射线探测器技术仍然是一个关键的需要在半导体行业,特别是对于high-spatial-resolution x射线微量分析使用lowbeam-voltage场发射扫描电子显微镜(FE-SEMs)。为了应对这种需求,一个原型微热量计能量色散光谱仪。本文讨论了新工具的功能,展示了其在薄膜和粒子分析使用。它还讨论正在进行的开发工作和未来发展。

这是一个由两部分组成的系列文章的第二篇文章在深紫外(DUV)显微镜。第一部分,发表在2000年2月EDFA的问题,讨论了该方法的工作原理和功能以及它适合的类型的应用程序。在这个问题中,作者描述了DUV显微镜的基本设计,主要组件的作用,及其对成像质量的影响。

失效分析的动态随机存取存储器遵循三步过程组成的电气测试和诊断、定位、和身体缺陷分析。电气测试交付—结果图形中显示位图,然后使用基于布局数据本地化缺陷。本文描述了每一步的过程,比较和对比激光扫描技术。

四个小组成员参加了ISTFA 2014小组讨论的重要性,正确确定失败的原因在电子设备和系统指定用于空间,井下钻探和其他这样的应用程序。这些组件的可靠性是至关重要的,因为他们无法轻易取代和故障可能是灾难性的。分析失败的小组成员提出了几种方法综合电子系统和确定问题的根源。

本文提出了一种nanoprobing方法,利用高速脉冲特征在SRAM细胞。作者描述了测试系统的基本设置和证明其使用six-transistor细胞失败。方法减少了故障定位时间和减少的可能性deprocessing过去的失败,因为测试是在金属化层1。位的反应的形式捕获模拟电流测量,导致失败的一个独特的签名。

构建可靠的系统不可靠的组件的问题通常是通过结合处理冗余和提前退休。本文评估潜在的智能故障预测系统,更取决于诊断数据和分析比内置冗余和昂贵的替代。

本文演示的长处和局限性电测试定位缺陷导致接触失败后发展出。它提出了三个案例研究,第一个涉及到写入问题一对细胞分享开放bitline接触。第二种情况下,一个读中小学感觉放大器之间的问题,作为一个例子,失败的位图和电气特性是如何一起工作来检测和定位的缺陷。第三例是一个译码器问题,要求额外的测试和内部调查以确定缺陷的位置。

本文解释了安全调查人员与法国民航安全查询及分析局(BEA)芯片级恢复过程用于检索记录飞行数据,帮助他们拼凑的事件导致直升机事故,最近发生在法国圭亚那。恢复数据以及目击者的描述和发现各种测试的失败表明,电容滤波的输出电流发生器内发动机燃料自动调节系统迫使飞行员控制燃料手动调节。尽管其他因素参与,文章解释说,电容器故障在空难中发挥了重大作用。

透射电子显微镜以各种方式提高了在过去的二十年里,引起新的表征技术。在本文中讨论的创新场发射枪的引入,将CCD相机和x射线探测器,使用镜头校正系统。这样的改善有显著影响失效分析通过新的TEM技术的出现,包括粮食和应变分析,旋进电子衍射降噪处理低剂量鳗鱼的映射ultra-low-k材料,和EDX断层元素3 d成像纳米尺度上的缺陷。

如何决定最重要的工作会议上发表后35年?选择标准应该使用什么,为什么经过锻炼的?本文解决了评估标准的列表,包括四十选择重要ISTFA论文发表在1979年和2002年之间。

在这篇文章中,作者认为的因素让一个想法获得专利并解释,想法可能导致专利可能会产生。

在这篇文章中,作者解释他们如何能够减少停机时间和整体实验室成本通过设置工具维护计划和适应它。他们提供的例子的类型的预防性和纠正性维修要求FA工具运行保持在巅峰状态。他们还讨论的重要性,认识到需要外界的帮助和知道何时退休的一种工具。

本文探讨当前研究纳米体系的基石和用于合成的技术。也提出一些想法和探索相关的挑战将这些构件集成到分子纳米系统如化学组装电子nanocomputers(卡昂)。

倒装芯片封装的反方向死使它容易受到光从背后攻击。本文讨论的本质脆弱性,评估光学检验工具和技术构成的威胁,并提供洞察有效对策。

模拟计算是一个重要的步骤在神经网络处理更上一层楼。然而,正如这篇专栏文章解释说,可靠性与性能和效率有着密切的联系在模拟系统中,比任何现代数字系统,进一步的工作是需要理解的关系。

物理失效分析工作需要知识,技术,材料,生产实践,分析技术等。很难想象什么失效分析就像如果所有物理定律都很明显,所有的样品制备和测试被移除的挑战。消除这些因素,失效分析将更喜欢数独。数独是一个简单的数字谜所享有的儿童和成人。数独的简单性与失效分析是重点。尽管数独是赤裸裸的简单,这个过程是挑战对我们最好的人。好的和坏的解决问题的做法显然是公开的经验解决数独谜题。一些见解非常清澈的数独在失效分析也同样如此。

所使用的技术分析师未能提供适当的刺激来诊断故障在混合信号集成电路与常规数字集成电路测试仪刺激。不仅需要向量刺激(即混合信号部分。,set timing and frequency base), but also analog output sense signals, which are classified by differences in magnitude, frequency, and current. This article explains how a mixed-signal ASIC was analyzed using various signal stimuli.

本月的嘉宾专栏作家分享他的思想的影响整合和自动化半导体行业和失败分析培训的重要性。