本专栏解释说，为了让供应链合作伙伴优化质量和端到端产量，必须在嵌入式仪器标准、测试访问机制和可追溯性方面取得进展。

模拟计算是将神经网络处理提升到下一个层次的重要步骤。然而，正如本专栏所解释的，在模拟系统中，可靠性与性能和效率密切相关，比在任何现代数字系统中都密切相关，需要进一步的工作来了解这种关系。

部件的可靠性是指它在规定的条件下在规定的时间内执行其功能的概率。本文回顾了定义和设计可靠性试验的关键考虑因素，并讨论了试验结果的解释。

本文介绍两种加速可靠性测试，可帮助缩短功率半导体封装的产品开发周期。一种测试通过对测试样品施加一系列热冲击来模拟温度循环的影响。另一种测试评估金属和成型化合物之间的结合，作为热循环阻力的测量。用按钮剪切试验来测量附着强度随时间和温度的变化。

本文概述了2013年ISTFA关于光伏系统故障分析和可靠性挑战的小组讨论。

本文评估了在开发和实现通硅通硅(TSV)技术方面所取得的进展，尚未完成的工作，以及与潜在失效机制相关的挑战。

本文概述了现场光伏(PV)模块中容易发生的故障类型以及通常用于调查它们的方法。它涵盖了断裂和腐蚀的互连，破裂和损坏的电池，短和开放的旁路二极管，分层，水分进入和密封剂变色的原因和影响。它描述了PV故障分析中常用的工具和技术，包括IV测量，电致发光，红外成像和视觉检查。它还讨论了光伏故障分析和可靠性中当前和新出现的挑战。

IBM工程师最近进行了一项研究，以更好地了解和控制2.5 d封装中铜柱焊点的可靠性。在这里，他们描述了他们的方法和他们获得的结果。他们解释了如何创建测试样品来评估不同的焊料成分、柱状几何形状和热历史，并评估它们对微观结构、析出形貌、金属间层厚度和剪切强度的影响。他们还介绍了热循环测试结果，比较了硅和玻璃中间体的性能。

本列提供故障分析的详细流程图。

提出了一种基于热反射原理的非侵入性热成像分析先进半导体器件的方法。几个例子说明了这种方法在检测热异常和其他技术所遗漏的缺陷方面的价值。

本专栏评估了超导器件技术及其在百亿亿次计算中的应用的现状和前景。

用不可靠的组件构建可靠系统的问题通常是通过冗余和提前退役相结合来解决的。本文评估了智能故障预测系统的潜力，该系统更多地依赖于诊断数据和分析，而不是内置冗余和昂贵的更换。

本文讨论了热载流子注入、偏置温度不稳定和随时间变化的介电击穿对FinFET性能和可靠性的影响。

本文回顾了扫描声学显微镜(SAM)的基本原理，并介绍了几个案例研究，证明其在故障分析和假冒检测中的应用。FA案例研究展示了SAM如何用于检测陶瓷芯片电容器和电阻中的分层、开裂和制造缺陷，全桥整流器中的空隙，以及微处理器中的辐射诱导缺陷。在涉及假冒ic的案例中，CSAM图像显示组件包装上存在异常，重新标签的证据，以及爆米花断裂，表明使用了过度的热量和力量将组件从电路板组件中分离出来。

利用远场光学故障定位技术可以获得的最佳空间分辨率约为45 nm技术节点上临界缺陷尺寸的20倍。在45 nm器件上可以安全使用的激光功率也有限制，这进一步降低了故障定位精度。在这篇文章中，作者解释了他们如何克服这些限制使用脉冲激光诱导成像技术和折射固体浸没透镜。两个案例研究展示了脉冲激光扫描光学显微镜和固体浸没透镜的组合如何提高定位精度和检测灵敏度。

这是有关应力失效原因的两部分系列文章中的第二篇，以及将其与IC互连故障联系起来所需的证据。第一部分发表在1999年11月的EDFA上，重点讨论了应力空洞破坏的原因和特征。在这里，该信息被应用于应力空洞的实际情况的分析。作者解释了他如何开发应力、成核和扩散的证据，这三种现象需要区分应力空洞与其他失效机制，以及这些证据如何指向具体的加工错误，并建议如何修复它们。虽然研究严重依赖于传统的观测工具，但他们以一种相对较新的技术——FIB背面细化——以新的方式应用，以获得成核的关键证据，并确认可疑的处理错误。

汽车电子产品面临机械冲击和振动、热循环、化学攻击、电流和电压峰值、电磁干扰和其他危险。早年的失败并不少见，但由于有很多因素，很难诊断。本文概述了汽车电子故障，并提出了确定根本原因的指导方针。

本文以智能卡射频识别(RFID)设备为例，研究了在组装过程中和现场遇到的静电放电风险场景，并概述了基本的应对措施。

本文描述了为好奇号火星探测车设计的1.8 kW激光二极管堆的鉴定过程。这个七根杆的堆叠装置是安装在探测车前部的吊杆式分光镜的光泵。每个激光棒由62个发射器组成，产生260瓦的瞬时光功率。给出了二极管堆的详细设计分析以及超应力测试和失效分析结果。

第22届欧洲电子器件可靠性、失效物理与分析研讨会(ESREF 2011)于2011年10月3日至7日在法国波尔多举行。会议集中讨论了电子设计人员、制造商和用户关注的两个主要领域:(1)电子电路和系统的质量和可靠性评估策略;(2)用于技术和产品评估的先进分析技术。这篇文章报道了技术方案的亮点。