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材料表征(2019年版)

本文简要介绍了用于测定固体表面原子结构的低能离子散射光谱(LEIS)。本文首先描述了lei is的一般原理。接下来的一节提供了用于LEIS的设备的信息。然后讨论了样品制备、校准和数据分析中涉及的各种步骤。文章最后介绍了LEIS在材料分析中的应用和解释,包括表面结构分析、逐层生长(Frank-van der Merwe)和低能原子散射光谱的讨论。

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