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ASM手册

材料表征(2019年版）

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体积

10

DOI:

https://doi.org/10.31399/asm.hb.v10.9781627082136

ISBN电子:

978-1-62708-213-6

出版时间:

2019

本章

透射电子显微镜

通过

Masashi渡边

Masashi渡边

1 利哈伊大学

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Doi:

https://doi.org/10.31399/asm.hb.v10.a0006681

发表:

2019

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摘要

透射电子显微镜(TEM)方法通过从低倍率到原子分辨率的成像，以及从薄标本的小区域获取化学和晶体学信息，基本上可以同时检查微观结构特征。本文讨论了该技术的基本原理，特别是用于解决材料问题。背景信息提供，以帮助了解基本操作和原理，包括仪器仪表，物理信号产生和检测，图像形成，电子衍射，和光谱技术与数据分析。

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