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ASM手册
材料表征(2019年版)
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体积
10
ISBN电子:
978-1-62708-213-6
出版时间:
2019年
本章
电子探针x射线微量分析
-
发表:2019年
文摘
本文详细叙述的原则electron-excited x射线微量分析。它首先讨论的物理基础electron-excited x射线微量分析和能量色散谱(EDS)的优缺点和电子探针显微分析波长色散分光法。关键概念进行定性分析和定量分析,然后electron-excited x射线光谱法。引用几个来源,导致测量的不确定性k /矩阵修正协议提供,连同原始的意义分析。引用部分的精度标准的k /矩阵修正协议与EDS和流程的分析还包括严重的峰重叠发生时。本文提供的信息low-atomic-number元素,迭代摘要分析复杂的成分,在EDS standardless分析软件的重要性。这结尾部分所涉及的流程元素映射为主要和次要成分。
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引用
戴尔·e·纽伯里,尼古拉斯·w·m·里奇电子探针x射线显微分析,材料的表征,10卷,2019年版。,ASM手册ASbeplay体育官网地址M国际,2019年,p 614 - 634,https://doi.org/10.31399/asm.hb.v10.a0006638
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