材料表征(2019年版）

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DOI:

https://doi.org/10.31399/asm.hb.v10.9781627082136

ISBN电子:

978-1-62708-213-6

出版时间:

2019

本章

x射线粉末衍射^[1]

通过

马特奥饰演

1 特伦托大学、国际衍射数据中心和沙特阿美公司

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https://doi.org/10.31399/asm.hb.v10.a0006680

发表:

2019

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摘要

x射线粉末衍射(XRPD)技术用于表征松散粉末、精细分割材料的聚集物或多晶样品形式的样品。本文提供了XRPD的详细说明。首先讨论XRPD仪器和用于表征样品的技术。然后，文章介绍了各种类型的粉末衍射仪的原理、优点和缺点。然后介绍了Rietveld衍射分析方法。本文讨论了粉末样品中相混合物的定性和定量的各种方法和程序。它提供了XRPD分析精度的典型灵敏度和实验极限以及其他影响精度的系统误差来源的信息。还介绍了一些与估计晶粒尺寸和缺陷有关的因素。本文最后给出了XRPD的几个应用示例。

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x射线粉末衍射[1]

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