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材料特性(2019年版)

透射电子显微镜(TEM)方法使基本上同时考试的微观结构特性通过成像从较低的放大化学和晶体的原子分辨率和收购来自薄样品的小区域的信息。本文讨论的技术基础,特别是对于解决材料问题。提供背景信息来帮助理解基本操作和原则,包括仪器、物理信号生成和检测、成像、电子衍射和谱分析技术与数据分析。

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