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ASM手册
材料表征(2019年版）
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体积
10
ISBN电子:
978-1-62708-213-6
出版时间:
2019
本章
电子探针x射线显微分析
-
发表:2019
摘要
本文详细叙述了电子激发x射线显微分析的原理。本文首先讨论了电子激发x射线显微分析的物理基础，以及能量色散光谱法(EDS)和波长色散光谱法在电子探针显微分析中的优势和局限性。然后介绍了用电子激发x射线能谱进行定性分析和定量分析的关键概念。本文提供了导致k比/矩阵校正协议中测量不确定度的几个来源，以及原始分析总量的重要性。还包括使用EDS的基于标准的k比/矩阵校正协议的准确性以及发生严重峰重叠时的分析过程。本文介绍了低原子序数元素，复杂成分的迭代定性定量分析，以及在EDS软件中进行无标准分析的意义。最后用一节介绍主要和次要成分的元素映射所涉及的过程。
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引用
Dale E. Newbury, Nicholas W. M. Ritchie，电子探针x射线显微分析，材料的表征第十卷2019年版。，ASM手册， beplay体育官网地址ASM国际，2019,p 614-634，https://doi.org/10.31399/asm.hb.v10.a0006638
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