本文讨论了工作原理、优点和局限性的扫描电子显微镜、原子力显微镜、x射线光电子能谱、二次离子质谱法用于分析塑料的表面化学。

本文努力让读者熟悉选择不同的电离设计和仪器组件提供知识分类的各种分析战略领域的坚实的质谱(MS)分析。它刚开始描述的一般原则的女士这是紧随其后的是部分仪器提供了一个基本的了解和讨论相关操作要求以及实际考虑固体样品的分析仪表女士讨论包括三重四极质谱计和飞行时间质谱计。电感耦合等离子体和热电离女士提供原子信息,实时直接分析和matrix-assisted laser-desorption电离女士是用于分析分子组成。本文描述了各种因素相关的电离方法,即辉光放电质谱和二次离子质谱分析。结尾部分在各种应用程序的例子和解释各种材料的女士。

气体分析质谱或气体质谱,是仪器的使用家庭通用技术,创建了一个带电离子的质荷比气相化学物种和措施。本文介绍了气体分析应用程序不使用色谱分离的物理隔离组件之前样品的分析。它的目的是提供一种气体分析仪表和术语的理解,这将有助于做出明智的决定在选择工具和方法论适合所需的数据。质量分析器气体的质谱分析技术,即四极质量过滤器、磁性行业质量过滤器,飞行时间质量分析器。常见的考虑因素在选择一个静态或连续气体分析仪测量也进行了描述。此外,本文提出了一些气体的质谱分析的应用的例子。

本文提供了一个简短的辉光放电质谱(gdm)直接测定固体样品中微量元素和快速深度剖析各种各样的新型材料。以描述gdm的一般原则。这是紧随其后的是讨论的各种组件gdm系统以及商业gdm仪器。在样品制备过程的描述和清洁然后在gdm。各种问题的讨论在gdm multielemental校准以及措施,克服它们。本文进一步提供信息的过程分析的参数设置在gdm,覆盖所涉及的步骤gdm的分析数据。它以部分结束应用程序和解释的gdm金属行业。

本文讨论了电感耦合等离子体质谱法的基本原则(icp),覆盖不同的仪器用于执行icp分析。乐器包括进样系统、ICP离子源、质量分析器和离子检测器。强调icp应用在半导体、光电、材料科学和其他电子和高科技领域。

本文简要描述了气相色谱/质谱分析的功能,用于定性和定量确定有机(无机)化合物纯度和稳定性和识别组件的混合物。详细讨论了气相色谱/质谱(GC / MS)检测,解释质谱,GC / MS方法,和GC / MS的进步。样品制备,这是非常重要的GC / MS避免错误数据,减少仪器的维护和故障排除,也进行了讨论。进一步,本文强调了艺术的状态检测器女士技术。

本文主要关注high-sputter-rate的原理及应用动态二次离子质谱(SIMS)进行深度分析和大量杂质分析。它开始于各种因素与溅射的概述。这是紧随其后的是讨论的影响离子注入和电子激发的电荷气急败坏的物种。各种工具组件的设计和操作的模拟人生了。depth-profiling SIMS分析细节,SIMS数据的定量分析,静态的操作模式的飞行时间西姆斯。提出了仪器功能所需的二次离子成像和四极和高分辨率磁过滤器质量之间的差异。本文还回顾了非金属样本的最优方法分析和高检测灵敏度的西姆斯。它以讨论各种各样的西姆斯应用的例子。

本文主要关注的模式操作,物理基础,样品需求,属性特征,表征方法的优势,限制评估组件表面的物理形态和化学性质对医疗设备。这些方法包括光学显微镜、扫描电子显微镜、原子力显微镜、能量色散x射线光谱、俄歇电子能谱学,二次离子质谱、x射线光电子能谱、傅里叶变换红外光谱和拉曼光谱。

本文着重于视觉或损坏材料的宏观检验和解释的损伤与断裂特性。分析工具可用于评估腐蚀和磨损损伤特性包括能量色散光谱、电子探针显微分析,俄歇电子能谱学、二次离子质谱分析和x射线粉末衍射。本文论述了基材成分和微观结构的分析和解释。准备和检查金相试样的失效分析进行了讨论。本文包括一个审查评价聚合物和陶瓷材料的失效分析。

本文提供了信息的化学表征表面由俄歇电子能谱(AES)、x射线光电子能谱(XPS)和飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)。它描述了每种方法背后的基本理论,从每个产生的类型的数据,和一些典型的应用。这篇文章解释了AES的长处,XPS和TOF-SIMS基于数据从稍微腐蚀不锈钢板的表面。

本文描述的操作和功能的金属表面分析方法,包括扫描电子显微镜、电子探针显微分析、透射电子显微镜、二次离子质谱法和x射线光电子能谱。它提供的信息功能,典型的使用,空间分辨率,元素分析检测阈值和精度,限制,样品需求,扫描俄歇微探针的工作原理。

涂料和薄膜与表面分析方法研究,因为他们天生小深度允许表征表面的组成、界面组成,深入成分的分布。本文描述了原则和常见的表面分析方法的例子,即俄歇电子能谱、x射线光电子能谱、离子散射谱,二次离子质谱法和卢瑟福背散射谱学。它还提供了有用的信息的应用表面分析。

分析透射电子显微镜(ATEM)材料表征技术中是独一无二的,因为它本质上使微观结构特征的同时检查通过高分辨率成像和化学和晶体信息的采集标本的小区域。本文阐述了该技术在解决材料问题的有效性。本文的第一部分提供了信息分析电子显微镜(AEM)及其基本操作特征以及电子光学、电子束/标本交互和生成一个信号,信号探测器,电子衍射,成像,x射线微量分析、电子能量损失谱,样品制备。第二部分由12的例子,每个说明一个特定类型的材料问题可以解决,至少部分,AEM。

卢瑟福背散射谱(苏格兰皇家银行)是一个主要的材料表征技术,可以提供信息分析时间短。用于定量成分分析薄膜的分层结构,或散装材料和测量表面杂质的重元素基质较轻的元素。本文主要关注苏格兰皇家银行及其原则,如碰撞运动学、散射截面和能量损失。它描述了沟道效应和苏格兰皇家银行的操作设备。本文还提供了苏格兰皇家银行的信息应用程序。

气相色谱/质谱(GC / MS)分析是有用的有机化合物的混合物。本文开始的描述的原则,质谱,气相色谱法。它提供信息的过程质谱的解释,并描述了实验过程和GC / MS的样品制备。本文还讨论了互补的技术,如高效液相色谱/质谱和质谱/质谱,GC / MS和得出结论的应用。

二次离子质谱仪(SIMS),一个充满活力的束聚焦离子是针对样品表面高或超高真空(特高压)环境。转移的势头冲击的主要离子溅射样品表面原因表面原子和分子。本文主要关注高溅射率的原理及应用动态模拟人生深度剖析和大部分杂质分析。它提供了宽束信息工具、离子探针和离子显微镜,详细描述系统组件和插图。本文用图形说明了模拟人生各种材料的光谱和深度资料。离子注入剖面的定量分析,二次离子成像所需仪器特性,分析非金属样品,检测灵敏度,西姆斯的应用进行了讨论。

场离子显微镜(鳍)可用于研究三维结构的材料,比如金属和半导体,因为连续的原子层可以从表面电离和删除字段蒸发。离子删除字段从表面蒸发可以被耦合到分析化学显微镜单粒子飞行时间质谱仪的灵敏度,称为原子探针(美联社)。本文描述了原理、样品制备和鳍的定量分析。它还提供了信息原则,仪器设计和操作,质谱和他们解释,美联社微量分析的应用。

扫描电子显微镜(SEM)展示了各种自1965年首次成为重要的改进。这些改进包括增强分辨率,可靠性,易于操作,减少尺寸和成本。本文提供了一个详细的仪器和SEM的原则,广泛地解释其功能在分辨率和景深成像。它描述了SEM的三个额外的功能,包括使用引导模式评估微米大小的地区的晶体学取向关系;利用背散射探测器揭露晶界上未侵蚀样品和铁磁合金领域界限;和电压的使用对比,电子beam-induced电流,阴极发光的特性和半导体器件的失效分析。本文比较了与螺旋扫描显微镜,扫描电镜的特点,列出了应用程序和SEM的局限性。

本文介绍了液相色谱的基本概念和基本要素(LC)。它讨论了信用证的不同模式,如液固色谱法、液-液色谱法、键合相色谱仪,正相色谱、反相色谱、离子交换色谱法、离子对色谱法、凝胶排阻层析法。本文还包括一个讨论的定性和定量分析,应用LC。

离子色谱法(IC)是一种分析技术,使用列挤满了离子交换树脂分离离子在水溶液和动态洗提一个检测器。本文提供的信息检测的不同的模式,即eluent-suppressed电导检测、单柱离子色谱法和电导检测离子色谱与光谱光度测量的检测和测量电流的电化学检测。它描述了模式分离技术在集成电路和反相集成电路。本文讨论了集成电路的检测功能,程序准备固体和液体样品,以及集成电路的应用。