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俄歇电子能谱学


作者:a . Joshi洛克希德帕洛阿尔托研究实验室文档|下载|产品代码:ZASMHBA0001770

价格:美元30.00

描述

俄歇电子能谱(AES)、x射线光电子能谱(XPS)、二次离子质谱(SIMS)和低能量离子散射谱(花环),如此命名在这本书中讨论的文章,是使用最广泛的surface-sensitive分析技术能够提供最外层的元素成分的固体的原子层。这些技术被用来研究固体表面的表面化学和交互金属、陶瓷、有机材料和生物材料。使用电子技术、x射线或离子探测源,和表面化学信息来源于表面发出的电子或离子的分析。

  • 发表:1986
  • 页:19

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