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透射电子显微镜法

文档下载|产品代码:ZASMHBA0001836

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描述

应用透射电子显微镜研究断裂表面及相关现象使人们有可能获得的放大和深度的领域比可能更大光光学显微镜。结果,获得了新的信息关于断裂过程的微观结构在1960年代,当透射电子显微镜的主要研究工具骨折。然而,由于引入的问题准备的必要性断裂面副本(参见下面的讨论),因为改进的扫描电子显微镜,骨折研究使用透射电子显微镜及相关副本目前仅限于以下情况:在高分辨率(比1海里)是必需的,如考试非常好疲劳辉纹;大组件的表面必须没有分割的部分;而提取粒子的识别
是必要的。

  • 发表:1987
  • 页:14

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