首页
事件
摄影比赛
2005
祝贺2005年的获奖者!
第一名:
高管安德鲁Woodard半导体洞察,安大略省,加拿大光衍射脱扣微控制器
2:
黄偏元美光半导体,亚洲在上面观察到的具气泡状空洞的叶图案模具附着胶带后发生分层由于聚酰亚胺固化不足。
3日:
林天翁新加坡A-Star微电子研究所电子胎儿-芯片的诞生。CMP前ECP铜的缺陷看起来像胎儿发育。
吉尔Garteiz以色列塔半导体公司通过拆除衬底,从背面暴露出一个静电放电试验破裂的22埃低压栅极。最后的湿蚀刻步骤已蚀刻出门聚从后面的破裂氧化物。所示层:STI,硅化活性和触点,间隔层,栅极氧化物
弗兰克Zhenge半导体洞察,安大略省,加拿大SRAM截面
保丽苏美光半导体,亚洲接触插头的污染
罗伯特UlfigImago科学仪器,威斯康辛州,美国CVD沉积硅锗、掺硼硅和掺硼硅锗薄膜的三维原子探针分析。每个点或球表示薄膜中单个原子的位置。硅(灰色),锗(绿色)和硼(蓝色球体)。为了清晰起见,只显示了一小部分原子。
8月Ramanujachar德州仪器,德克萨斯州,美国扫描SRAM显示的当前图像门触点泄漏导致单钻头失效。泄漏的门触点看起来像一个额外的接触并列在其他四个接触。
Bernhard Tittmann美国宾夕法尼亚州立大学超声原子力显微镜成像,图像相对模量变化。样品是氧化铝颗粒(橙白色)的“绿色体”,含有3%的粘结剂(黑圈)。粘结剂(丙烯酸乳液)显示为黑色,因为它的模量比氧化铝低。图像尺寸为10x10微米。颗粒大小约为1微米。任何其他显微镜都无法将粘结剂与氧化铝区分开来。