2001摄影比赛

2001年摄影比赛得奖者

祝贺2001年的优胜者!
第一类:彩色图像

第一名:

Jianxiong陈

诺基亚公司，芬兰

这张照片不是冬夜的松树。这是在仅使用3-5个月的电信设备的杂化物中发现的银枝晶生长。这张照片是用500倍放大的光学显微镜拍摄的。

2:


马克·卡恩斯

Zenith电子公司，伊利诺伊州

对IC保护结构的轻微ESD损伤
液晶分析检测。故障部位为
球左下方的黑色圆形点
债券，在债券盘的角落。

3日:

沃尔特·m·史密斯

L-3通信系统公司，新泽西州

塑料包装在接缝处鼓胀!
这是由于对流回流焊过程中吸收的湿气蒸发造成的。

第二类:黑白图像

第一名:

詹姆斯的谜语

海边,加州

由绝缘子上的导电路径引起的磁场入侵检测器的间歇触发。扫描电镜显示，绝缘子中有盐堆积，并有蜘蛛网在绝缘子上架桥。这是一张氯化钠晶体生长在蜘蛛网丝上的照片。

2:


Erkko Elonen

诺基亚手机，芬兰

SnPb模式的铅迁移。偏置电压为
按顺序应用于两种焊料模式之间
研究过程中表面绝缘电阻
水分测试。

3日:

Bernhard诺尔

英飞凌技术股份公司，德国

“硅谷”-扫描电镜图像显示微米级的侵蚀。这些结构是在聚焦离子束制备用于透射电子显微镜的薄片(未显示)时形成的。来自前一个抛光步骤的污垢作为掩模，从而以艺术的方式防止FIB蚀刻。
第三类:虚假彩色图像

第一名:

戴夫Vallett

佛蒙特州，圣埃塞克斯交界处

用扫描SQUID(超导量子干涉器件)显微镜获得SRAM器件的背面电流密度图像。傅里叶图像变换将映射的磁场转换为电流密度。然后使用商业图像处理软件创建表面图。

2:


8月Ramanujachar

德州仪器公司，德克萨斯州


扫描电容图像(SCM)
在电容器中看到的衬底级缺陷
结构。缺陷是封闭在里面的
蓝色的盒子。威化被加工成
栅极氧化物的水平。

3日:

Bernd Ebersberger

英飞凌科技，德国

在钨- cmp和随后的氧化物- cmp之后，在金属间氧化物中嵌入钨通孔的原子力显微镜图像。AFM测量表面的平整度:不同材料之间的台阶高度，表面粗糙度以及钨在塞和周围氧化物中的分布深度。