ISTFA诉讼

国际测试与故障分析研讨会(ISTFA)是科学家和工程师的首要活动，他们致力于评估故障，提高半导体器件和加工技术的性能和可靠性。

ISTFA会议的记录现在可以在ASM数字图书馆中找到。作为电子设备故障分析学会会员的一项福利，可以访问ISTFA的论文集。

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