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ISTFA 2018:第44届测试与失效分析国际研讨会论文集
发表:2018
2018年11月会议的主题是“值得分析的失败”。当技术飞速发展，市场需要最新最好的产品时，成功的公司努力保持竞争力和盈利。
ISTFA 2014:第40届测试与失效分析国际研讨会论文集(2014年11月9日至13日，美国德克萨斯州休斯顿)
发表:2014
“探索失效分析的多个方面”是第40届测试与失效分析国际研讨会(ISTFA 2014)的主题，2014年11月9日至13日，在美国德克萨斯州休斯顿的乔治r布朗会议中心举行。
ISTFA 2013:第39届测试与失效分析国际研讨会论文集，完整论文集
发表:2013
这本书的特点是最新的研究和实际数据从首要事件微电子故障分析社区。这些论文涵盖了广泛的测试和故障分析主题，对任何致力于检测、理解和消除电子设备和系统故障的人都有实用价值。
ISTFA 2012:第38届测试与失效分析国际研讨会论文集
发表:2012
完整论文集，105篇论文，摘自ISTFA 2012:第38届测试与失效分析国际研讨会论文集，2012年11月11-15日，凤凰城，亚利桑那州
ISTFA 2004:第30届测试与失效分析国际研讨会论文集
出版日期:2004年10月1日
ISTFA会议论文集是技术图书馆、失效分析(FA)实验室和相关行业不可分割的一部分。这第30版代表了在ISTFA 2004上提出的最先进的研究、开发、工具和技术的全面参考。
ISTFA 2002:第28届测试与失效分析国际研讨会论文集
出版日期:2002年10月1日
ISTFA会议论文集是技术图书馆、失效分析(FA)实验室和相关行业不可分割的一部分。这第28版代表了在ISTFA 2002上提出的最先进的研究、开发、工具和技术的全面参考。
ISTFA 2000:第26届测试与失效分析国际研讨会论文集
发表:2000
本届国际科技论坛标志着新千年的开始。微电子技术的发展水平大大超出了不久前的预测。微电子技术的快速发展使我们能够达到上一代人无法想象的集成度、运行速度、可靠性甚至成本水平。
