用户组
用户组的目标是提供那些参与这一领域的技术(甚至那些只有通过利益!)一个机会来分享信息和发现未来合作的方向。这是一个充满mini-presentations的开放论坛,floor-initiated话题,和一个健壮的交换想法。
周二,11月2日下午2点45分-。- 5:00。
样品准备
版主:
- 吉姆•科尔文FA仪器有限公司
- 塞西尔索,Fishione
- 郑Kah下巴,三星半导体奥斯汀
由:
成功的半导体器件失效分析高度依赖于高质量的样品。由于这个原因,在失效分析样品制备起着至关重要的作用。它已成为失败的分析师必须保持了解新的工具和技术来解决样本准备More-than-Moore (MTM)技术。
在2021年1月,用户组会议几乎举行。这一次,我们希望能亲自见到你。来参与一个活跃的小组讨论上最先进的扫描电镜样品制备,TEM和其他相关的失效分析的技术。这是一个互动讨论的问题你可以回答只需要问。考虑到大片的经验我们的与会者在一个房间里,有人一定会有一个答案与团队分享。
会议将强调一系列样品制备技术和策略包括机械、化学、热管理、离子铣,提升式技术(具体由我们邀请小组成员。主题将包括样品制备的大部分设备特定场地准备SEM, TEM分析,分别。
系统包
版主:
- 音)曹,日月光半导体
- 凯文•DistelhurstGLOBALFOUNDRIES
System-on-package (SoP)地址的复杂性和性能需求集成来自不同的主动和被动技术的组件在一个包中,减少工艺节点继续变得成本高昂,经历长期的上市时间
高级包类型(2.5 d、3 d、插入器,巨头等)中使用SoP试图解决的性能需求也通过缩短关键信号路径和独特使不同的细分技术的集成。它有一个巨大的潜力来减少开发费用和资本成本以及投入市场的时间。然而,这些巨大的利益没有免费的。
SoP肯定增加可靠性风险和失效分析的复杂性,许多你可能遇到。请加入SoP用户组在讨论这些先进的SoP技术对你的困难和其他分析师的失败。
让我们利用这个机会想出创新的技术和工具,可以解决SoP FA的复杂性。
你想象什么特性和功能,帮助社区改善足总成功率或削弱吞吐量时间?流程为你工作什么?我们希望这交换思想有利于每一个与会者和丰富我们的FA世界!
周三,11月3日- 3:05。下午5点。
非接触式探测和NANOPROBING
版主——椅子和主席:
- 丹•Bockelman英特尔
- 萨拉·奥斯托夫斯基届东亚运动会
- 奈尔莱斯利,热费舍尔
非接触式探测和Nanoprobing用户组将包括讨论各种话题与光学相关探测技术故障隔离以及Nanoprobing和扫描探针显微镜。
格式将公开讨论mini-presentations预先确定的主题和观众参与的机会。
例子的讨论主题包括EBAC / EBIRCH技术、车牌区域的使用和体验,激光技术,锁定温度记录,背后电子束,SCM, sMIM, nanoprobing着陆能量很低。
撒小谎
版主:
- 史蒂文•Herschbein独立顾问
- 瓦莱丽•奥格登俄勒冈大学
- 迈克尔•王热费舍尔
- 埃德•普林西比同步研究
利用现代FIB工具在各种各样的工厂,实验室和FA任务,包括浆纱切片、高分辨率成像,样品制备对TEM等分析技术,和电路编辑。小说离子物种的出现,新工艺气体,进化工具平台,第三方配件和更大的可用性,应用景观总是不断变化的。拥有成本、维修和服务/支持模型是一个关心许多实验室经理,这意味着外包问题也在增多。
COVID-19对半导体行业有着深远的影响,和不确定性和中断你的实验室操作很可能会持续到不久的将来。而有效的实验室分析的能力从来没有大,工具的所有者的压力也在增加,充分利用我们所拥有的可用。
两小时的目标 ISTFA特殊事件是提供那些涉及 FIB工具 (甚至那些只有通过利益!)一个分享信息的机会,问问题, 和发现未来合作的方向。去年1月的虚拟事件有130的“识别”在线!今年我们回到生活场所,并将继续mini-presentations的格式,floor-initiated话题,和一个健壮的交换想法。 跟你的问题来,挑战,建议,提示和技巧等。分享你所知道的,询问新的东西,挑战现状。虽然组织者提供一个初始框架讨论,这在很大程度上你的事件。
